ਦਾ ਮੁੱਦਾਯੂਐਲ 1642ਨਵਾਂ ਸੰਸ਼ੋਧਿਤ ਸੰਸਕਰਣ - ਪਾਊਚ ਸੈੱਲ ਲਈ ਭਾਰੀ ਪ੍ਰਭਾਵ ਬਦਲਣ ਦਾ ਟੈਸਟ,
ਯੂਐਲ 1642,

▍SIRIM ਸਰਟੀਫਿਕੇਸ਼ਨ

ਵਿਅਕਤੀ ਅਤੇ ਸੰਪਤੀ ਦੀ ਸੁਰੱਖਿਆ ਲਈ, ਮਲੇਸ਼ੀਆ ਸਰਕਾਰ ਉਤਪਾਦ ਪ੍ਰਮਾਣੀਕਰਣ ਯੋਜਨਾ ਸਥਾਪਤ ਕਰਦੀ ਹੈ ਅਤੇ ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕ ਉਪਕਰਣਾਂ, ਜਾਣਕਾਰੀ ਅਤੇ ਮਲਟੀਮੀਡੀਆ ਅਤੇ ਨਿਰਮਾਣ ਸਮੱਗਰੀ 'ਤੇ ਨਿਗਰਾਨੀ ਰੱਖਦੀ ਹੈ। ਨਿਯੰਤਰਿਤ ਉਤਪਾਦਾਂ ਨੂੰ ਉਤਪਾਦ ਪ੍ਰਮਾਣੀਕਰਣ ਸਰਟੀਫਿਕੇਟ ਅਤੇ ਲੇਬਲਿੰਗ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰਨ ਤੋਂ ਬਾਅਦ ਹੀ ਮਲੇਸ਼ੀਆ ਨੂੰ ਨਿਰਯਾਤ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ।

▍SIRIM QAS

SIRIM QAS, ਮਲੇਸ਼ੀਅਨ ਇੰਸਟੀਚਿਊਟ ਆਫ਼ ਇੰਡਸਟਰੀ ਸਟੈਂਡਰਡਜ਼ ਦੀ ਪੂਰੀ ਮਲਕੀਅਤ ਵਾਲੀ ਸਹਾਇਕ ਕੰਪਨੀ, ਮਲੇਸ਼ੀਅਨ ਰਾਸ਼ਟਰੀ ਰੈਗੂਲੇਟਰੀ ਏਜੰਸੀਆਂ (KDPNHEP, SKMM, ਆਦਿ) ਦੀ ਇੱਕੋ ਇੱਕ ਮਨੋਨੀਤ ਪ੍ਰਮਾਣੀਕਰਣ ਯੂਨਿਟ ਹੈ।

ਸੈਕੰਡਰੀ ਬੈਟਰੀ ਪ੍ਰਮਾਣੀਕਰਣ ਨੂੰ KDPNHEP (ਮਲੇਸ਼ੀਆ ਦੇ ਘਰੇਲੂ ਵਪਾਰ ਅਤੇ ਖਪਤਕਾਰ ਮਾਮਲਿਆਂ ਦੇ ਮੰਤਰਾਲੇ) ਦੁਆਰਾ ਇਕੋ ਪ੍ਰਮਾਣੀਕਰਨ ਅਥਾਰਟੀ ਵਜੋਂ ਮਨੋਨੀਤ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਹੈ। ਵਰਤਮਾਨ ਵਿੱਚ, ਨਿਰਮਾਤਾ, ਆਯਾਤਕਾਰ ਅਤੇ ਵਪਾਰੀ SIRIM QAS ਨੂੰ ਪ੍ਰਮਾਣੀਕਰਣ ਲਈ ਅਰਜ਼ੀ ਦੇ ਸਕਦੇ ਹਨ ਅਤੇ ਲਾਇਸੰਸਸ਼ੁਦਾ ਪ੍ਰਮਾਣੀਕਰਣ ਮੋਡ ਦੇ ਅਧੀਨ ਸੈਕੰਡਰੀ ਬੈਟਰੀਆਂ ਦੀ ਜਾਂਚ ਅਤੇ ਪ੍ਰਮਾਣੀਕਰਣ ਲਈ ਅਰਜ਼ੀ ਦੇ ਸਕਦੇ ਹਨ।

▍SIRIM ਸਰਟੀਫਿਕੇਸ਼ਨ- ਸੈਕੰਡਰੀ ਬੈਟਰੀ

ਸੈਕੰਡਰੀ ਬੈਟਰੀ ਵਰਤਮਾਨ ਵਿੱਚ ਸਵੈ-ਇੱਛਤ ਪ੍ਰਮਾਣੀਕਰਣ ਦੇ ਅਧੀਨ ਹੈ ਪਰ ਇਹ ਜਲਦੀ ਹੀ ਲਾਜ਼ਮੀ ਪ੍ਰਮਾਣੀਕਰਣ ਦੇ ਦਾਇਰੇ ਵਿੱਚ ਹੋਣ ਜਾ ਰਹੀ ਹੈ। ਸਹੀ ਲਾਜ਼ਮੀ ਮਿਤੀ ਅਧਿਕਾਰਤ ਮਲੇਸ਼ੀਅਨ ਘੋਸ਼ਣਾ ਸਮੇਂ ਦੇ ਅਧੀਨ ਹੈ। SIRIM QAS ਨੇ ਪਹਿਲਾਂ ਹੀ ਪ੍ਰਮਾਣੀਕਰਣ ਬੇਨਤੀਆਂ ਨੂੰ ਸਵੀਕਾਰ ਕਰਨਾ ਸ਼ੁਰੂ ਕਰ ਦਿੱਤਾ ਹੈ।

ਸੈਕੰਡਰੀ ਬੈਟਰੀ ਸਰਟੀਫਿਕੇਸ਼ਨ ਸਟੈਂਡਰਡ : MS IEC 62133:2017 ਜਾਂ IEC 62133:2012

▍ MCM ਕਿਉਂ?

● SIRIM QAS ਦੇ ਨਾਲ ਇੱਕ ਵਧੀਆ ਤਕਨੀਕੀ ਆਦਾਨ-ਪ੍ਰਦਾਨ ਅਤੇ ਸੂਚਨਾ ਵਟਾਂਦਰਾ ਚੈਨਲ ਸਥਾਪਤ ਕੀਤਾ ਜਿਸ ਨੇ ਇੱਕ ਮਾਹਰ ਨੂੰ ਸਿਰਫ਼ MCM ਪ੍ਰੋਜੈਕਟਾਂ ਅਤੇ ਪੁੱਛਗਿੱਛਾਂ ਨੂੰ ਸੰਭਾਲਣ ਅਤੇ ਇਸ ਖੇਤਰ ਦੀ ਨਵੀਨਤਮ ਸਹੀ ਜਾਣਕਾਰੀ ਸਾਂਝੀ ਕਰਨ ਲਈ ਨਿਯੁਕਤ ਕੀਤਾ।

● SIRIM QAS MCM ਟੈਸਟਿੰਗ ਡੇਟਾ ਨੂੰ ਮਾਨਤਾ ਦਿੰਦਾ ਹੈ ਤਾਂ ਜੋ ਨਮੂਨੇ ਮਲੇਸ਼ੀਆ ਨੂੰ ਡਿਲੀਵਰ ਕਰਨ ਦੀ ਬਜਾਏ MCM ਵਿੱਚ ਟੈਸਟ ਕੀਤੇ ਜਾ ਸਕਣ।

● ਬੈਟਰੀਆਂ, ਅਡਾਪਟਰਾਂ ਅਤੇ ਮੋਬਾਈਲ ਫੋਨਾਂ ਦੇ ਮਲੇਸ਼ੀਅਨ ਪ੍ਰਮਾਣੀਕਰਣ ਲਈ ਇੱਕ-ਸਟਾਪ ਸੇਵਾ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਨ ਲਈ।

UL 1642 ਦਾ ਇੱਕ ਨਵਾਂ ਸੰਸਕਰਣ ਜਾਰੀ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ। ਪਾਊਚ ਸੈੱਲਾਂ ਲਈ ਭਾਰੀ ਪ੍ਰਭਾਵ ਵਾਲੇ ਟੈਸਟਾਂ ਦਾ ਵਿਕਲਪ ਜੋੜਿਆ ਗਿਆ ਹੈ। ਖਾਸ ਲੋੜਾਂ ਹਨ: 300 mAh ਤੋਂ ਵੱਧ ਸਮਰੱਥਾ ਵਾਲੇ ਪਾਊਚ ਸੈੱਲ ਲਈ, ਜੇਕਰ ਭਾਰੀ ਪ੍ਰਭਾਵ ਟੈਸਟ ਪਾਸ ਨਹੀਂ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ, ਤਾਂ ਉਹਨਾਂ ਨੂੰ ਸੈਕਸ਼ਨ 14A ਰਾਉਂਡ ਰੌਡ ਐਕਸਟਰਿਊਸ਼ਨ ਟੈਸਟ ਦੇ ਅਧੀਨ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਪਾਉਚ ਸੈੱਲ ਵਿੱਚ ਕੋਈ ਹਾਰਡ ਕੇਸ ਨਹੀਂ ਹੁੰਦਾ ਹੈ, ਜਿਸ ਨਾਲ ਅਕਸਰ ਸੈੱਲ ਫਟਣਾ, ਟੈਪ ਫ੍ਰੈਕਚਰ, ਮਲਬਾ ਬਾਹਰ ਨਿਕਲਣਾ ਅਤੇ ਭਾਰੀ ਪ੍ਰਭਾਵ ਟੈਸਟ ਵਿੱਚ ਅਸਫਲਤਾ ਕਾਰਨ ਹੋਇਆ ਹੋਰ ਗੰਭੀਰ ਨੁਕਸਾਨ, ਅਤੇ ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਨੁਕਸ ਜਾਂ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਦੇ ਨੁਕਸ ਕਾਰਨ ਅੰਦਰੂਨੀ ਸ਼ਾਰਟ ਸਰਕਟ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਉਣਾ ਅਸੰਭਵ ਬਣਾਉਂਦਾ ਹੈ। ਗੋਲ ਰਾਡ ਕਰਸ਼ ਟੈਸਟ ਦੇ ਨਾਲ, ਸੈੱਲ ਦੇ ਢਾਂਚੇ ਨੂੰ ਨੁਕਸਾਨ ਪਹੁੰਚਾਏ ਬਿਨਾਂ ਸੈੱਲ ਵਿੱਚ ਸੰਭਾਵਿਤ ਨੁਕਸ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਇਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਸੰਸ਼ੋਧਨ ਇਸ ਸਥਿਤੀ ਨੂੰ ਧਿਆਨ ਵਿੱਚ ਰੱਖ ਕੇ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ।  ਇੱਕ ਸਮਤਲ ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਇੱਕ ਨਮੂਨਾ ਰੱਖੋ। ਨਮੂਨੇ ਦੇ ਸਿਖਰ 'ਤੇ 25±1mm ਦੇ ਵਿਆਸ ਵਾਲੀ ਇੱਕ ਗੋਲ ਸਟੀਲ ਦੀ ਡੰਡੇ ਪਾਓ। ਡੰਡੇ ਦੇ ਕਿਨਾਰੇ ਨੂੰ ਸੈੱਲ ਦੇ ਉੱਪਰਲੇ ਕਿਨਾਰੇ ਦੇ ਨਾਲ ਇਕਸਾਰ ਹੋਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ, ਟੈਬ (FIG. 1) ਦੇ ਲੰਬਕਾਰੀ ਧੁਰੇ ਦੇ ਨਾਲ. ਡੰਡੇ ਦੀ ਲੰਬਾਈ ਟੈਸਟਿੰਗ ਨਮੂਨੇ ਦੇ ਹਰੇਕ ਕਿਨਾਰੇ ਨਾਲੋਂ ਘੱਟੋ ਘੱਟ 5mm ਚੌੜੀ ਹੋਣੀ ਚਾਹੀਦੀ ਹੈ। ਉਲਟ ਪਾਸਿਆਂ 'ਤੇ ਸਕਾਰਾਤਮਕ ਅਤੇ ਨਕਾਰਾਤਮਕ ਟੈਬਾਂ ਵਾਲੇ ਸੈੱਲਾਂ ਲਈ, ਟੈਬ ਦੇ ਹਰੇਕ ਪਾਸੇ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕੀਤੀ ਜਾਣੀ ਚਾਹੀਦੀ ਹੈ। ਟੈਬ ਦੇ ਹਰ ਪਾਸੇ ਦੀ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਨਮੂਨਿਆਂ 'ਤੇ ਜਾਂਚ ਕੀਤੀ ਜਾਣੀ ਚਾਹੀਦੀ ਹੈ।  ਸੈੱਲਾਂ ਲਈ ਮੋਟਾਈ (ਸਹਿਣਸ਼ੀਲਤਾ ±0.1mm) ਦਾ ਮਾਪ IEC 61960-3 (ਸੈਕੰਡਰੀ ਸੈੱਲਾਂ ਅਤੇ ਬੈਟਰੀਆਂ ਜਿਨ੍ਹਾਂ ਵਿੱਚ ਖਾਰੀ ਜਾਂ ਹੋਰ ਗੈਰ- ਐਸਿਡਿਕ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਲਾਈਟਸ - ਪੋਰਟੇਬਲ ਸੈਕੰਡਰੀ ਲਿਥੀਅਮ ਸੈੱਲ ਅਤੇ ਬੈਟਰੀਆਂ - ਭਾਗ 3: ਪ੍ਰਿਜ਼ਮੈਟਿਕ ਅਤੇ ਸਿਲੰਡਰ ਲੀਥੀਅਮ ਸੈਕੰਡਰੀ ਸੈੱਲ ਅਤੇ ਬੈਟਰੀਆਂ)  ਫਿਰ ਗੋਲ ਡੰਡੇ 'ਤੇ ਸਕਿਊਜ਼ ਪ੍ਰੈਸ਼ਰ ਲਗਾਇਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ ਅਤੇ ਲੰਬਕਾਰੀ ਦਿਸ਼ਾ ਵਿੱਚ ਵਿਸਥਾਪਨ ਨੂੰ ਰਿਕਾਰਡ ਕੀਤਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ (FIG. 2)। ਦਬਾਉਣ ਵਾਲੀ ਪਲੇਟ ਦੀ ਗਤੀ 0.1mm/s ਤੋਂ ਵੱਧ ਨਹੀਂ ਹੋਣੀ ਚਾਹੀਦੀ। ਜਦੋਂ ਸੈੱਲ ਦੀ ਵਿਗਾੜ ਸੈੱਲ ਦੀ ਮੋਟਾਈ ਦੇ 13±1% ਤੱਕ ਪਹੁੰਚ ਜਾਂਦੀ ਹੈ, ਜਾਂ ਦਬਾਅ ਸਾਰਣੀ 1 ਵਿੱਚ ਦਰਸਾਏ ਗਏ ਬਲ ਤੱਕ ਪਹੁੰਚ ਜਾਂਦਾ ਹੈ (ਵੱਖ-ਵੱਖ ਸੈੱਲ ਮੋਟਾਈ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਬਲ ਦੇ ਮੁੱਲਾਂ ਨਾਲ ਮੇਲ ਖਾਂਦਾ ਹੈ), ਪਲੇਟ ਦੇ ਵਿਸਥਾਪਨ ਨੂੰ ਰੋਕੋ ਅਤੇ ਇਸਨੂੰ 30 ਸਕਿੰਟ ਲਈ ਰੱਖੋ। ਟੈਸਟ ਖਤਮ ਹੁੰਦਾ ਹੈ।